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  • X9106-C日本MEG對齊單元
    X9106-C日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9106-C是其對齊單元(Alignment Unit)系列中的一款型號,專(zhuān)為精密機械或光學(xué)系統設計。 專(zhuān)注于高精度定位、對齊及檢測設備,其產(chǎn)品廣泛應用于液晶面板、半導體、電子元件組裝等領(lǐng)域。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9106-MO24S日本MEG對齊單元
    X9106-MO24S日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9106-MO24S該單元通常用于工業(yè)自動(dòng)化中的精密對齊(Alignment)或定位(Positioning),可能應用于半導體、電子組裝、機械加工等領(lǐng)域。 支持光學(xué)、機械或激光傳感技術(shù),實(shí)現高精度位置校正。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9106-MO23DB日本MEG對齊單元
    X9106-MO23DB日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9106-MO23DB用于半導體設備、液晶面板制造、精密組裝線(xiàn)等需要亞微米級定位的場(chǎng)景。 高精度對齊單元,專(zhuān)注于高精度工業(yè)自動(dòng)化組件,如對齊單元、傳感器和定位系統.

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9113AP-C日本MEG對齊單元
    X9113AP-C日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9113AP-C用于工業(yè)自動(dòng)化生產(chǎn)線(xiàn)中的 位置對齊、角度校正 或 精密定位,確保工件或設備在加工/裝配過(guò)程中達到預設的物理姿態(tài)。 半導體設備、液晶面板制造、機器人末端工具校準等,具備微米級(μm)或亞角秒級重復定位精度。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9103AP-C日本MEG對齊單元
    X9103AP-C日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9103AP-C用于高精度機械裝配、生產(chǎn)線(xiàn)定位或光學(xué)檢測系統中的位置校準,確保組件間的精確對齊。 緊湊節省空間,高速運行,備有帶馬達型號、外部驅動(dòng)型號,此外,還可以選擇主體安裝方式和鰭片形狀等。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9113AP-MO13B日本MEG對齊單元
    X9113AP-MO13B日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9113AP-MO13B用于精密制造或光學(xué)設備中,確保組件(如鏡頭、傳感器、機械部件)的精準定位與校準。 具備自動(dòng)調整功能(如通過(guò)電機或壓電驅動(dòng)),適用于高精度工業(yè)或科研場(chǎng)景。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9103AP-MO13B日本MEG對齊單元
    X9103AP-MO13B日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9103AP-MO13B用于工業(yè)自動(dòng)化設備中精密機械組件的位置校準或角度對齊,確保裝配或加工過(guò)程中的精度。 應用于半導體設備、液晶面板制造、機器人等高精度領(lǐng)域。 支持多軸聯(lián)動(dòng)或與其他MEG模塊(如運動(dòng)控制器)無(wú)縫集成。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9113AP-MO14S日本MEG對齊單元
    X9113AP-MO14S日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9113AP-MO14S用于工業(yè)自動(dòng)化中的精密位置對齊,如機械臂、CNC機床或光學(xué)檢測設備的定位校準。 集成高精度傳感器(如編碼器、激光測距)和反饋系統,確保微米級重復定位精度。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9103AP-MO14S日本MEG對齊單元
    X9103AP-MO14S日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9103AP-MO14S是一款高精度對齊模塊,適用于半導體、電子制造或機械加工領(lǐng)域。 對齊單元(Alignment Unit)通常用于自動(dòng)化生產(chǎn)線(xiàn)或精密裝配中,確保工件、PCB板或機械部件的位置精確對準,以便進(jìn)行后續加工、檢測或組裝。

    更新時(shí)間:2025-06-09
  • X9113-C日本MEG對齊單元
    X9113-C日本MEG對齊單元

    日本MEG對齊單元X9113-C用于精密機械/光學(xué)設備的定位校準(如半導體設備、顯微鏡等),具備高精度位移控制(微米/納米級)或角度調整功能。 自動(dòng)化檢測設備(CCD相機定位)。

    更新時(shí)間:2025-06-09
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