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日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型

  • 產(chǎn)品型號:K050
  • 更新時(shí)間:2025-04-23

簡(jiǎn)要描述:日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針
以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點(diǎn),適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場(chǎng)景。

產(chǎn)品詳情

深圳納加霍里科技專(zhuān)業(yè)代理銷(xiāo)售日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050 產(chǎn)品特點(diǎn)如下:

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050與標準型相比,該彈簧探針系列具有更長(cháng)的行程和更高的負載,使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等,對于每個(gè)間距,您不僅可以選擇柱塞*形狀,還可以選擇負載。您可以選擇適合您需求的型號。

KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針,以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點(diǎn),適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場(chǎng)景。

1. 設計亮點(diǎn)

① 高可靠性接觸

雙層彈簧結構:內層提供初始接觸力,外層承擔高負載,避免單點(diǎn)疲勞失效。

冠形針頭設計:多點(diǎn)接觸模式,穿透焊盤(pán)氧化層的同時(shí)減少劃傷風(fēng)險。

② 適應性?xún)?yōu)化

可調行程:支持定制化行程(1.8-3.0mm),適配不同PCB厚度公差。

防卡死導向:特氟龍涂層導向套,減少摩擦導致的卡針問(wèn)題。

③ 信號完整性

低電感設計:<1nH(1MHz下),適合高速數字信號(如DDR5)測試。

2. 典型應用

功率模塊測試:

GBT/SiC模組的柵極驅動(dòng)信號測試(5A電流需求)。

電動(dòng)汽車(chē)逆變器PCB的循環(huán)耐久性驗證。

高密度PCB檢測:

服務(wù)器主板PCIe插槽的阻抗連續性檢查。

5G基站射頻模塊的焊點(diǎn)導通性測試。

3. 核心參數

特性參數值/描述
針徑0.50 mm(平衡尺寸與強度)
額定電流5A(瞬態(tài)峰值可達8A)
工作負載500-800gf(穩定接觸氧化表面)
行程范圍2.0-2.5 mm(優(yōu)化緩沖行程)
接觸電阻≤25mΩ(鍍金觸點(diǎn),低衰減)
機械壽命≥80萬(wàn)次(標準負載)
耐溫范圍-40°C ~ +150°C(高溫可選型號)

4. 核心型號參數對比

型號額定電流最大負載 (gf)行程 (mm)針徑 (mm)特點(diǎn)
K0393A300-5001.5-2.00.39微型化設計,高密度測試
K0505A500-8002.0-2.50.50平衡負載與壽命
K0757A800-12002.5-3.00.75高電流/高耐久性
K10010A1200-15003.0-4.01.00強負載,工業(yè)級應用

日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型

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