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產(chǎn)品型號：K100
更新時(shí)間：2025-04-23簡(jiǎn)要描述：日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 系列具有更長(cháng)的行程和更高的負載，使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于每個(gè)間距，您不僅可以選擇柱塞*端形狀，還可以選擇負載。您可以選擇*適合您需求的型號。 專(zhuān)為半導體測試中大電流、高機械應力場(chǎng)景優(yōu)化，適用于嚴苛環(huán)境下的PCB功能測試、功率模塊驗證及老化測試。
深圳納加霍里科技專(zhuān)業(yè)代理銷(xiāo)售日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 產(chǎn)品特點(diǎn)如下：
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 該系列以高耐久性、穩定接觸電阻和抗機械疲勞著(zhù)稱(chēng)，廣泛應用于晶圓測試、封裝測試、PCB功能驗證等領(lǐng)域。
負載設計：專(zhuān)為半導體測試中大電流、高機械應力場(chǎng)景優(yōu)化，適用于嚴苛環(huán)境下的PCB功能測試、功率模塊驗證及老化測試。
工業(yè)級耐久性：在1500gf高接觸壓力下仍保持穩定性能，典型壽命達50萬(wàn)次以上（標準測試條件）。
1. 突出特點(diǎn)
① 高可靠性結構
強化彈簧機構：采用特殊合金彈簧材料，抗疲勞性提升30%（對比同級產(chǎn)品）。
防卡死設計：導向槽+自清潔針頭，減少碎屑堆積導致的卡針問(wèn)題。
② 電氣性能優(yōu)化
低阻抗通路：鍍厚金（可選銠合金）觸點(diǎn)，降低接觸電阻波動(dòng)。
大電流散熱：針體內部銅芯增強散熱，持續10A測試溫升＜15°C。
③ 惡劣環(huán)境適配
防腐蝕鍍層：通過(guò)48小時(shí)鹽霧測試（ASTM B117標準）。
防濺射設計：可選密封套件，用于油污/粉塵環(huán)境（如汽車(chē)電子測試）。
2. 典型應用場(chǎng)景
功率電子測試：
IGBT/SiC模塊的導通測試（需穿透氧化層）
車(chē)載ECU板的大電流負載驗證
老化測試（Burn-in）：
服務(wù)器PCB的長(cháng)時(shí)間高負荷循環(huán)測試
光伏逆變器模塊的壽命評估
高阻抗需求測試：
低電壓大電流場(chǎng)景（如電源管理IC測試）
3. 定制選項
針頭形狀：平頭（默認）、尖頭（破氧化層）、冠狀頭（多觸點(diǎn)）。
彈簧壓力：可調整至2000gf（需配合專(zhuān)用夾具）。
線(xiàn)纜集成：支持直接焊接同軸電纜（阻抗匹配至50Ω）。
4. 關(guān)鍵參數規格
| 特性 | 參數值/描述 |
|---|---|
| 額定電流 | 10A（瞬時(shí)峰值可達15A） |
| 最大負載 | 1200-1500gf（可定制更高壓力） |
| 行程范圍 | 3.0-4.0mm（長(cháng)行程適應不平整表面） |
| 針徑 | 1.00mm（粗針徑增強結構強度） |
| 接觸電阻 | ≤20mΩ（初始值，鍍金觸點(diǎn)） |
| 工作溫度 | -40°C ~ +150°C（高溫適配性強） |
| 推薦測試頻率 | 適用于DC及低頻大電流測試 |
5. 核心型號參數對比
| 型號 | 額定電流 | 最大負載 (gf) | 行程 (mm) | 針徑 (mm) | 特點(diǎn) |
|---|---|---|---|---|---|
| K039 | 3A | 300-500 | 1.5-2.0 | 0.39 | 微型化設計，高密度測試 |
| K050 | 5A | 500-800 | 2.0-2.5 | 0.50 | 平衡負載與壽命 |
| K075 | 7A | 800-1200 | 2.5-3.0 | 0.75 | 高電流/高耐久性 |
| K100 | 10A | 1200-1500 | 3.0-4.0 | 1.00 | *強負載，工業(yè)級應用 |
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